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射頻電路與芯片設(shè)計(jì)要點(diǎn)(中文版)
作者:
(美)李緝熙 著
;
王志功 主譯
出版社:
高等教育出版社
出版時(shí)間:
2007-06
開(kāi)本:
16
ISBN:
9787040215007
1
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本書(shū)英文版《KEY ISSUES in RF/RFIC CIRCUIT DESIGN》自出版以來(lái),廣受讀者關(guān)注和好評(píng)。為了更好地滿足國(guó)內(nèi)相關(guān)院校和廣大學(xué)習(xí)者的需求,東南大學(xué)王志功教授主持了翻譯本書(shū)的中文版。 本書(shū)重點(diǎn)討論芯片級(jí)和PCB級(jí)射頻電路設(shè)計(jì)和測(cè)試中經(jīng)常遇到的阻抗匹配、接地、單端到差分轉(zhuǎn)換、容差分析、噪聲與增益和靈敏度、非線性和雜散波等關(guān)鍵問(wèn)題。本書(shū)可作為高等院校射頻電路與系統(tǒng)設(shè)計(jì)專業(yè)方向的研究生教材,也可供從事射頻電路和系統(tǒng)設(shè)計(jì)工作的工程技術(shù)人員參考。
本書(shū)英文版《KEY ISSUES in RF/RFIC CIRCUIT DESIGN》自出版以來(lái),廣受讀者關(guān)注和好評(píng)。為了更好地滿足國(guó)內(nèi)相關(guān)院校和廣大學(xué)習(xí)者的需求,東南大學(xué)王志功教授主持了翻譯本書(shū)的中文版。 本書(shū)重點(diǎn)討論芯片級(jí)和PCB級(jí)射頻電路設(shè)計(jì)和測(cè)試中經(jīng)常遇到的阻抗匹配、接地、單端到差分轉(zhuǎn)換、容差分析、噪聲與增益和靈敏度、非線性和雜散波等關(guān)鍵問(wèn)題。本書(shū)可作為高等院校射頻電路與系統(tǒng)設(shè)計(jì)專業(yè)方向的研究生教材,也可供從事射頻電路和系統(tǒng)設(shè)計(jì)工作的工程技術(shù)人員參考。
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JQ008
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